[发明专利]质量分析仪、质谱仪和相关方法有效
| 申请号： | 201280063559.8 | 申请日： | 2012-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN104011832B | 公开（公告）日： | 2016-11-16 |
| 发明（设计）人： | 维切斯拉夫·斯切普诺夫;罗杰·吉勒斯 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | H01J49/42 | 分类号： | H01J49/42;H01J49/40 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 杨静 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于在质谱仪中使用的质量分析仪。质量分析仪具有包括被布置为形成至少一个静电扇区的电极的电极集合，该电极集合在空间上被布置为能够在参考平面中提供适合于沿着参考平面中的闭合轨道引导离子的静电场，其中，电极集合沿着局部垂直于参考平面并且绕参考轴弯曲的漂移路径延伸，使得在使用中，电极集合提供3D静电场区域。质量分析仪被配置为在使用中由电极集合提供的3D静电场区域沿着绕参考轴弯曲的单个预定3D参考轨迹引导具有不同初始坐标和速度的离子。 | ||
| 搜索关键词： | 质量 分析 质谱仪 相关 方法 | ||
【主权项】：
一种在质谱仪中使用的质量分析仪，所述质量分析仪包括：电极集合，包括被布置为形成至少一个静电扇区的电极，所述电极集合在空间上被布置为能够在参考平面中提供适合于沿着所述参考平面中的闭合轨道引导离子的静电场，其中，所述电极集合沿着局部垂直于所述参考平面的漂移路径延伸，其中，所述漂移路径绕包括在所述参考平面中的参考轴弯曲，使得在使用中，所述电极集合提供了3D静电场区域；其中，所述质量分析仪被配置为使得在使用中，由所述电极集合提供的所述3D静电场区域沿着绕所述参考轴弯曲的单个预定3D参考轨迹引导具有不同初始坐标和速度的离子。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社岛津制作所，未经株式会社岛津制作所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201280063559.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
