[发明专利]针对滞留时间确定或确认的视窗化质谱分析数据的使用有效

专利信息
申请号: 201280064280.1 申请日: 2012-12-15
公开(公告)号: CN104025249A 公开(公告)日: 2014-09-03
发明(设计)人: 斯蒂芬·A·泰特;约翰·R·伯顿 申请(专利权)人: DH科技发展私人贸易有限公司
主分类号: H01J49/26 分类号: H01J49/26;G06F9/44
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 曹晓斐
地址: 新加坡*** 国省代码: 新加坡;SG
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摘要: 对分离样本的扫描在多个间隔中的每个间隔处由质谱仪接收。所述质谱仪在每个间隔处执行一或多次质谱扫描。所述扫描具有一或多个序列质量窗口宽度以在每个间隔处横跨整个质量范围并且在所述多个间隔内产生所述整个质量范围的光谱集合。为离子碎片识别所述光谱集合中的一或多个不同间隔处的一或多个峰。在每个峰的每个间隔内检索所述整个质量范围的质谱。将所述质谱中与每个峰对应的质荷比峰的一或多个离子特征值与所述碎片离子的一或多个已知值相比较。基于比较对每个峰进行评分。
搜索关键词: 针对 滞留 时间 确定 确认 视窗 谱分析 数据 使用
【主权项】:
一种用于对光谱集合中所关注的已知化合物峰进行评分的系统,所述系统包括:从样本混合物中分离一或多种化合物的分离装置;质谱仪,所述质谱仪通过使用一或多个序列质量窗口宽度在多个间隔的每个间隔处在分离的样本混合物上执行一或多次质谱扫描以横跨整个质量范围,从而在所述多个间隔内产生所述整个质量范围的光谱集合;以及处理器,所述处理器(a)选择已知化合物的碎片离子,(b)在所述光谱集合中在所述多个间隔的一或多个不同间隔处识别所述碎片离子的一或多个峰,以及(c)通过以下方式对所述一或多个峰中的每个峰进行评分:从所述光谱集合中获取所述每个峰的每个间隔内的所述整个质量范围的质谱,将所述质谱中与所述每个峰对应的质荷比峰的一或多个离子特征值与所述碎片离子的一或多个已知值相比较,以及使所述每个峰的得分基于所述比较的结果。
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