[发明专利]具有对被测装置(DUT)的原位温度感应的环境测试系统和方法在审
| 申请号： | 201280064508.7 | 申请日： | 2012-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN104114996A | 公开（公告）日： | 2014-10-22 |
| 发明（设计）人： | 詹姆斯·佩林;N·W·埃尔斯德费尔 | 申请（专利权）人： | 天普桑尼克公司 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 罗攀;肖冰滨 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 用于对被测装置(DUT)进行测试的环境室系统和方法，包括可在其中对DUT进行测试的环境室。温度传感器感应DUT的温度并生成指示DUT的温度的信号。控制器接收与所述室中的温度和湿度中的至少一个有关的至少一个输入信号以及所述指示DUT的温度的信号，并提供至少一个控制信号，以用于调节所述室中的温度和湿度中的至少一个，使得在DUT附近的所述室的区域中，所述DUT的温度不低于环境的露点，从而在所述室中的环境中，在所述DUT附近的区域中不发生凝结。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 装置 dut 原位 温度 感应 环境 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种能够在其中对被测装置DUT进行测试的环境室系统，该环境室系统包括：环境室，在其中能够对所述DUT进行测试；用于感应所述DUT的温度的温度传感器，所述温度传感器生成指示所述DUT的温度的信号；以及控制器，用于接收与所述室中的温度和湿度中的至少一个有关的至少一个输入信号以及接收所述指示所述DUT的温度的信号并提供用于调节所述室中的温度和湿度中的至少一个的至少一个控制信号，以使得在所述DUT附近的所述室的区域中，所述DUT的温度不低于所述室中的环境的露点，从而在所述室中的环境中，在所述DUT附近的区域中不发生凝结。
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