[发明专利]并行多个特征超声波检查无效
申请号: | 201280065408.6 | 申请日: | 2012-12-18 |
公开(公告)号: | CN104067115A | 公开(公告)日: | 2014-09-24 |
发明(设计)人: | M.S.贝利;M.富瓦斯特;J.伊特斯库 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | G01N29/06 | 分类号: | G01N29/06;G01B17/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 叶晓勇;姜甜 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 提供一种用于声学测量组件的外表面以及在那个位置的壁厚或者组件厚度的方法。该方法还提供用于通过物理接触来测量外表面,并且并行地声学测量在那个位置的壁厚。 | ||
搜索关键词: | 并行 特征 超声波 检查 | ||
【主权项】:
一种用于测量组件的方法,包括以下步骤:提供具有至少一个第一表面和至少一个第二表面的组件;提供声学收发器;在已知坐标系内提供所述声学收发器和所述组件;所述声学收发器在所述已知坐标系内的第一位置向所述组件并行发出声学信号,从所述至少一个第一表面并行接收第一返回信号,并且从所述至少一个第二表面并行接收第二返回信号;记录所述发出声学信号与接收所述第一返回信号之间的第一时间滞后,并且在所述已知坐标系内确定所述至少一个第一表面上的测量的第一点;记录所述接收所述第一返回信号与所述接收所述第二返回信号之间的第二时间滞后,并且在所述已知坐标系内确定所述至少一个第二表面上的测量的第二点;以及在所述已知坐标系内的多个位置重复所述确定测量的第一点步骤以及所述确定测量的第二点步骤,以创建所述组件的三维模型。
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