[发明专利]用于光伏电池制造的晶圆分级和分类无效
申请号: | 201280065768.6 | 申请日: | 2012-11-07 |
公开(公告)号: | CN104025276A | 公开(公告)日: | 2014-09-03 |
发明(设计)人: | 托斯顿·特鲁普克;罗格·克勒泽 | 申请(专利权)人: | BT成像股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;B07C5/34;H01L31/18;G01N21/63 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
地址: | 澳大利亚*** | 国省代码: | 澳大利亚;AU |
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摘要: | 本发明公开了方法和系统,该方法和系统用于对诸如可用于制造光伏电池的硅晶圆等半导体材料的样本进行分析,用于为该样本分配级别并可选地将它们分类到质量库中。对样本进行基于光致发光的分析和至少一种基于非光致发光的分析,并对数据进行处理,以获得关于一个或多个特性的信息。然后,基于该一个或多个特性对样本进行分级并可选地分类。在优选的实施方案中,级别表示有待由样本制造的光伏电池的性能。 | ||
搜索关键词: | 用于 电池 制造 分级 分类 | ||
【主权项】:
一种对用于制造光伏电池的半导体材料的多个样本进行分级的方法,所述方法包括:(a)对每个样本进行基于光致发光的分析,包括从所述材料产生并成像光致发光;(b)对每个样本进行一种或多种基于非光致发光的分析;(c)处理从所述基于光致发光的分析和所述一种或多种基于非光致发光的分析中获得的数据,以获得所述样本的一个或多个特性的信息;以及(d)基于所述一个或多个特性,将所述样本分为预设数量的级别。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造