[发明专利]具有波长测量功能的波长可变形激光装置有效
| 申请号： | 201280066954.1 | 申请日： | 2012-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN104040810A | 公开（公告）日： | 2014-09-10 |
| 发明（设计）人： | 金定洙 | 申请（专利权）人： | 株式会社伏沃 |
| 主分类号： | H01S5/06 | 分类号： | H01S5/06;H01S5/0683;H01S5/02 |
| 代理公司： | 北京京万通知识产权代理有限公司 11440 | 代理人： | 齐晓静 |
| 地址： | 韩国大*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明涉及一种能够在具有晶体管外形罐(transistor outline)的用于高密度波分多路复用(Dense Wavelength Division Multiplexing；DWDM)的波长可变激光二极管封装构造上测量波长的波长可变形激光装置。根据本发明的波长可变形激光装置，其为包括发出激光的激光二极管芯片、用于准直激光的准直镜片、供选择的波长透射的波长选择性滤波器、具有倾斜的反射面的反射镜的晶体管外形罐型波长可变形激光装置，其中，将激光区分为从所述激光二极管芯片(100)发出并通过准直镜片(200)准直后，通过45度反射镜(300)反射到晶体管外形罐型封装的外部的光和透射45度反射镜(300)的光，然后将透射所述45度反射镜(300)的光分为至少两束光后，在一束光的路径上设置用于检测光的第一光电二极管(510)，在另一束光的路径上设置透射率随着波长发生变化的波长选择性滤波器(400)、(600)和第二光电二极管(520)。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 波长 测量 功能 变形 激光 装置 | ||
【主权项】：
一种具有波长测量功能的波长可变形激光装置，其为包括发出激光的激光二极管芯片、用于准直激光的准直镜片、供选择的波长透射的波长选择性滤波器、具有倾斜的反射面的反射镜的晶体管外形罐型波长可变形激光装置，其特征在于，将激光区分为从所述激光二极管芯片(100)发出并通过准直镜片(200)准直后，通过45度反射镜(300)反射到晶体管外形罐型封装的外部的光和透射45度反射镜(300)的光，将透射所述45度反射镜(300)的光分为至少两束光后，在一束光的路径上设置用于检测光的第一光电二极管(510)，在另一束光的路径上设置透射率随着波长发生变化的波长选择性滤波器(400)、(600)和第二光电二极管(520)。
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