[发明专利]光学测量装置有效

专利信息
申请号: 201280072460.4 申请日: 2012-07-30
公开(公告)号: CN104246456A 公开(公告)日: 2014-12-24
发明(设计)人: 大久保和明;白岩久志 申请(专利权)人: 大塚电子株式会社
主分类号: G01J1/00 分类号: G01J1/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种光学测量装置(1),包括:中空的圆筒状构件(2),其在一个平面上具有第一开口(10),并且在另一平面上具有第二开口(18);旋转机构(52、54),其用于使圆筒状构件绕圆筒状构件的中心轴即第一轴线旋转;支承部(20、22),其用于将光源(30)配置于测量位置,该测量位置在第一轴线上,且该测量位置为所照射的光穿过第一开口而入射到圆筒状构件的内部的位置;第一反射部(12),其配置在圆筒状构件的内部,用于反射从光源穿过第一开口而入射的光;第二反射部(14),其用于反射圆筒状构件的内部的光,使该光穿过第二开口而沿第一轴线向圆筒状构件的外部传播;以及至少一个的第三反射部(16),其用于使第一反射部的反射光入射到第二反射部。
搜索关键词: 光学 测量 装置
【主权项】:
一种光学测量装置,其用于与照射角相关联地对自光源照射的光进行检测,其特征在于,该光学测量装置包括:中空的圆筒状构件,其在一个平面上具有第一开口,并且在另一平面上具有第二开口;旋转机构,其用于使所述圆筒状构件绕所述圆筒状构件的中心轴即第一轴线旋转;支承部,其用于将所述光源配置于测量位置,该测量位置在所述第一轴线上,且该测量位置为所照射的光穿过所述第一开口而入射到所述圆筒状构件的内部的位置;第一反射部,其配置在所述圆筒状构件的内部,用于反射从所述光源穿过所述第一开口而入射的光;第二反射部,其用于对所述圆筒状构件的内部的光进行反射,使该光穿过所述第二开口而沿所述第一轴线向所述圆筒状构件的外部传播;以及至少一个的第三反射部,其用于使所述第一反射部的反射光向所述第二反射部入射。
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