[发明专利]检测处理器插槽中的缺陷在审
| 申请号： | 201280072807.5 | 申请日： | 2012-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN104272264A | 公开（公告）日： | 2015-01-07 |
| 发明（设计）人： | 普里特尔·贾亚纳特尔·帕特尔 | 申请（专利权）人： | 惠普发展公司;有限责任合伙企业 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/263 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人： | 于会玲;康泉 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 插槽可以包括多个管脚。可以测试该插槽，以确定是否有任何故障或缺陷。例如，可以确定所述多个管脚中的任何一个管脚是否弯曲和缺失。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 处理器 插槽 中的 缺陷 | ||
【主权项】：
一种系统，包括：包括多个管脚的插槽；安装在该插槽中的处理器，该处理器包括JTAG接口；和包括JTAG接口的控制器，该控制器被配置成通过该JTAG接口测试该插槽以检测该插槽中的任何缺陷。
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