[发明专利]对低强度电离放射线敏感的基因的检测方法及用所述方法检测的基因有效

专利信息
申请号: 201280073091.0 申请日: 2012-05-18
公开(公告)号: CN104284987A 公开(公告)日: 2015-01-14
发明(设计)人: 金熙善;崔承镇;崔茂铉;奉珍钟;申硕澈 申请(专利权)人: 韩国水力原子力株式会社
主分类号: C12Q1/68 分类号: C12Q1/68;C12N15/11;G01N33/574
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 韩明星;孙昌浩
地址: 韩国庆尚*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明涉及一种对低强度电离放射线敏感的基因的检测方法及用所述方法检测的基因,尤其提供一种对诱发癌症的AKR/J小鼠和正常的ICR小鼠照射低强度放射线,并从中采集胸腺,且针对所述胸腺而执行微阵列化而分类有关糖代谢的基因,并扩增所述基因且测定表达量,从而在癌症诱发个体中发掘并在正常个体中得到验证的对低强度电离放射线敏感的基因的检测方法。这样构成的本发明的效果在于,通过防止干扰变量的介入,能够准确地检测出对放射线起到特异的反应的基因。
搜索关键词: 强度 电离 放射线 敏感 基因 检测 方法
【主权项】:
一种对低强度电离放射线敏感的基因的检测方法,包括如下步骤:I)对诱发癌症的AKR/J小鼠和正常的ICR小鼠照射低强度放射线;II)从所述AKR/J小鼠和ICR小鼠中采集胸腺;III)对所述胸腺执行微阵列化;IV)由所述微阵列分类有关糖代谢的基因;V)扩增所述基因,并测定表达量,而且,从癌症诱发个体中发掘并在正常个体中验证。
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