[发明专利]生产线监视装置有效
| 申请号： | 201280076090.1 | 申请日： | 2012-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN104685429B | 公开（公告）日： | 2017-12-08 |
| 发明（设计）人： | 中山大辅 | 申请（专利权）人： | 富士机械制造株式会社 |
| 主分类号： | G05B19/418 | 分类号： | G05B19/418;H05K13/00 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司11219 | 代理人： | 穆德骏,谢丽娜 |
| 地址： | 日本爱知*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供生产线监视装置，高精度地确定生产不良的原因，并且减少分析数据的数据量和计算量，能够进行实时处理。本发明的生产线监视装置(6)具备不良征兆检测部(61)，检测生产线(1)中的生产不良的征兆；及不良原因确定部(62)，确定生产不良的原因。不良征兆检测部(61)收集由检查装置(5)对用于确定产品中的位置的每个基准点(REF1～REF3)所测定的测定信息，根据基准点(REF1～REF3)处的测定信息的历时变化来检测生产不良的征兆。不良原因确定部(62)基于不良征兆检测部(61)检测出生产不良的征兆时的与基准点(REF2)相关的生产信息来进行分层分析，并根据分析结果来确定生产不良的原因不良。 | ||
| 搜索关键词： | 生产线 监视 装置 | ||
【主权项】：
一种生产线监视装置，具备：不良征兆检测部，检测生产线中的生产不良的征兆；及不良原因确定部，确定所述生产不良的原因，所述不良征兆检测部收集由检查装置对用于确定产品中的位置的每个基准点所测定的测定信息，根据所述基准点处的测定信息的历时变化来检测所述生产不良的征兆，所述不良原因确定部基于所述不良征兆检测部检测出所述生产不良的征兆时的与所述基准点相关的生产信息来进行分层分析，并根据所述分层分析的分析结果来确定所述生产不良的原因，所述生产信息为所述生产线的设备信息、向所述生产线供给的原材料信息、操作所述生产线的作业者信息以及所述生产线的生产步骤信息中的至少一个。
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