[发明专利]温度测定系统以及异常检测方法有效

专利信息
申请号: 201280076614.7 申请日: 2012-10-26
公开(公告)号: CN104755892B 公开(公告)日: 2017-03-08
发明(设计)人: 宇野和史;武井文雄;笠嶋丈夫;只木恭子;石锅稔 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G01K11/12 分类号: G01K11/12;G01K11/32
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 舒艳君,李洋
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明提供一种能够在初始阶段检测在化工厂、炼油厂以及火力发电站等设施中发生的异常的温度测定系统以及异常检测方法。温度测定系统具有光纤(30)、温度分布测定装置(31)、以及数据处理装置(32)。温度分布测定装置(31)向光纤(30)射入光并检测后方散射光,根据其检测结果来取得沿光纤(30)的长度方向的温度分布。数据处理装置(32)存储由温度分布测定装置(31)取得的温度分布,并且针对运算当前时刻的温度分布和过去的温度分布的差值而得到的差值温度分布实施信号处理,并根据其结果来判断异常的有无。
搜索关键词: 温度 测定 系统 以及 异常 检测 方法
【主权项】:
一种温度测定系统,其特征在于,具有:光纤;温度分布测定装置,向所述光纤射入光并检测后方散射光,根据其检测结果来取得沿所述光纤的长度方向的温度分布;以及数据处理装置,存储由所述温度分布测定装置取得的温度分布,并且针对运算当前时刻的温度分布和过去的温度分布的差值而得到的差值温度分布实施信号处理,根据其结果来判断异常的有无,在根据所述信号处理的结果判断为有异常时,所述数据处理装置沿所述光纤的长度方向设定根据所述信号处理的结果认为发生了异常的异常区域、以及其前后的认为没有异常的基准温度区域,并实施以所述基准温度区域中的所述当前时刻的温度分布与所述过去的温度分布的温度差为基准来修正所述异常区域的峰值的信号处理。
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