[发明专利]芯片验证在审
申请号: | 201280077619.1 | 申请日: | 2012-10-11 |
公开(公告)号: | CN104838387A | 公开(公告)日: | 2015-08-12 |
发明(设计)人: | E.贝内德蒂 | 申请(专利权)人: | 爱迪德技术有限公司 |
主分类号: | G06F21/57 | 分类号: | G06F21/57 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 王岳;蒋骏 |
地址: | 荷兰霍*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 描述了一种芯片,其包括可编程来存储芯片配置数据的一次可编程(OTP)存储器和可操作来访问OTP存储器的验证模块。验证模块可操作来接收关于OTP存储器的指定部分的验证请求,该验证请求包括限定OTP存储器的指定部分的掩模数据。响应于验证请求,验证模块可操作来使用掩模数据和OTP存储器以生成关于OTP存储器的指定部分的验证数据,该验证数据还基于芯片的秘密密钥而被生成。还描述了一种生成关于芯片的一次可编程(OTP)存储器的指定部分的验证数据的芯片实现的方法。还描述了用于初级或次级验证系统验证上面提到的芯片的OTP存储器的指定部分的配置的方法。 | ||
搜索关键词: | 芯片 验证 | ||
【主权项】:
一种芯片,包括:一次可编程(OTP)存储器,其可编程来存储芯片配置数据;以及验证模块,其可操作来访问OTP存储器;其中,验证模块可操作来接收关于OTP存储器的指定部分的验证请求,该验证请求包括限定OTP存储器的指定部分的掩模数据;并且其中,响应于验证请求,验证模块可操作来使用掩模数据和OTP存储器以生成关于OTP存储器的指定部分的验证数据,该验证数据还基于芯片的秘密密钥而被生成。
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