[发明专利]光量测定装置在审
| 申请号： | 201280078030.3 | 申请日： | 2012-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN104884916A | 公开（公告）日： | 2015-09-02 |
| 发明（设计）人： | 藤森昭一;望月学 | 申请（专利权）人： | 日本先锋公司;先锋自动化设备股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00;G01M11/00;H01L33/00 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;黄纶伟 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种光量测定装置，能以简单的结构实现有效且接近安装状态下的高精度测定。光量测定装置(1)具备测定台(10)、探针(20)以及光检测器(30)，测定台(10)用于承载以放射状射出光束的LED(101)，探针(20)接触LED(101)的端子(102)并向其供电，使得LED(101)发光，光检测器(30)接收LED(101)射出的光束并测定其光量，探针(20)可以向着靠近、远离测定台(10)的方向移动，当探针(20)向着靠近测定台(10)的方向移动时，探针(20)接触端子(102)，在光检测器(30)中的测定，是在相对于使探针(20)向着测定台(10)移动的移动量，端子(102)对探针(20)的反作用处于饱和状态的区域内进行。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 装置 | ||
【主权项】：
一种光量测定装置，其特征在于：具备测定台、探针以及光接收部，所述测定台用于承载能以放射状射出光束的半导体发光元件，所述探针接触所述半导体发光元件的端子并向其供电，使得所述半导体发光元件发光，所述光接收部接收所述半导体发光元件射出的光束并测定其光量，所述探针可以向着靠近、远离所述测定台的方向移动，当所述探针向着靠近所述测定台的方向移动时，所述探针接触所述端子，在所述光接收部中的测定，是在相对于使所述探针向着所述测定台移动的移动量，所述端子对所述探针的反作用达到一定的状态的区域内进行。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日本先锋公司;先锋自动化设备股份有限公司，未经日本先锋公司;先锋自动化设备股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201280078030.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：采用各向异性热电材料的激光电源传感器
- 下一篇：校正液位传感器的方法
