[发明专利]半导体开关设备在审
申请号: | 201280078041.1 | 申请日: | 2012-12-28 |
公开(公告)号: | CN104885363A | 公开(公告)日: | 2015-09-02 |
发明(设计)人: | 马尔科·塔卡拉;泰勒·肯塔拉;哈里·马特拉尔;马蒂·克基普罗;托米·兰塔宁 | 申请(专利权)人: | ABB公司 |
主分类号: | H03K17/00 | 分类号: | H03K17/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 唐京桥;李春晖 |
地址: | 芬兰赫*** | 国省代码: | 芬兰;FI |
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摘要: | 一种半导体开关设备,该开关设备对于每个电流相包括第一半导体开关(2a)、第二半导体开关(2b)、第一二极管(3a)、第二二极管(3b)、用于从所述半导体开关的输入线和输出线测量电压的装置、以及与所述半导体开关串联地布置的用于测量电流的装置(8)。另外地,该设备包括控制元件(14),所述控制元件(14)被配置成在零电压点下接通半导体开关设备并且在零电流点下关断半导体开关。 | ||
搜索关键词: | 半导体 开关设备 | ||
【主权项】:
一种用于切换电路的半导体开关设备,其中,所述开关设备对于每个电流相包括:第一半导体开关和第二半导体开关,所述第一半导体开关和所述第二半导体开关能够被控制以随意接通和关断;第一二极管和第二二极管,所述第一二极管和所述第二二极管用于控制可用电流路径;用于从所述半导体开关的输入线和输出线测量电压的装置;用于测量电流的装置,其与所述半导体开关串联地布置以测量相线的电流;以及控制元件,其被配置成通过响应于电压测量结果和电流测量结果控制所述半导体开关接通和关断来响应于接通所述电路的命令在零电压点下接通所述半导体开关设备以及响应于关断所述电路的命令在零电流点下关断所述半导体开关。
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