[发明专利]一种射频测试电路的屏蔽方法及屏蔽结构无效

专利信息
申请号: 201310003596.6 申请日: 2013-01-06
公开(公告)号: CN103076470A 公开(公告)日: 2013-05-01
发明(设计)人: 张杰;王安意 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: G01R1/18 分类号: G01R1/18
代理公司: 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 代理人: 余成俊
地址: 233010 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种射频测试电路的屏蔽方法及屏蔽结构,屏蔽方法包括以下步骤:电路板设计时单面布置元器件,分区布局电路;电路板的背面采用盲孔设计,设置整块的镀金铜皮实心接地面;电路板上、下两面均设置金属屏蔽罩,元器件所在面的屏蔽罩有活动上盖,方便调试;电路调试完毕,安装活动上盖封闭元器件;屏蔽结构包括有屏蔽盒,屏蔽盒由屏蔽盖、屏蔽框、屏蔽板组成,电路板安装在屏蔽框与屏蔽板之间,三者用螺钉紧密连接,屏蔽盖与屏蔽框独立连接,屏蔽框与屏蔽盖、电路板之间通过条形弹性导电材料密封。本发明从电路设计和结构设计两方面采取措施,达到了结构简单,体积小,便于安装调试,电磁屏蔽效果好的目的。
搜索关键词: 一种 射频 测试 电路 屏蔽 方法 结构
【主权项】:
一种射频测试电路的屏蔽方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:(1)电路板设计时单面布置元器件,用接地隔离线分区布局电路;(2)电路板的背面采用盲孔设计,设置整块的镀金铜皮实心接地面;(3)电路板上、下两面均设置金属屏蔽罩,元器件所在面的金属屏蔽罩上设置有活动上盖;(4)电路调试完毕后,安装步骤(3)中所述金属屏蔽罩上的活动上盖封闭元器件即可。
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