[发明专利]一种光模块调试系统

摘要

本发明公开了一种光模块调试系统，所述系统包括：调试板，其包括差分晶振，用以为调试板上的被调试光模块提供数据电信号；调试通信主板，其包括单片机和监控光模块，监控光模块通过光电二极管探测被调试光模块接收数据电信号后发射的光信号，并检测光电二极管产生的响应电流；调试主机，用于与所述单片机通信，通过所述单片机获取所述监控光模块检测的响应电流；根据获取的响应电流计算光功率；根据计算的光功率通过所述单片机调整被调试光模块中的偏置电流，进行光功率的调试。由于采用了监控光模块来代替光功率计测试被调试光模块发射的激光的光功率；采用可以输出高频的差分电信号的差分晶振代替误码仪，从而大大降低了光模块的调试成本。

主权项

一种光模块调试系统，包括：调试板，其包括差分晶振，用以为安装于所述调试板上的被调试光模块提供数据电信号；调试通信主板，其包括单片机和监控光模块，所述监控光模块通过光纤与所述被调试光模块相连，用以通过光电二极管探测所述被调试光模块接收所述数据电信号后发射的光信号，并检测所述光电二极管探测到光信号后所产生的响应电流；所述单片机通过第一总线与所述被调试光模块的MCU通信，通过第二总线与所述调试光模块的MCU通信；调试主机，用于与所述单片机通信，通过所述单片机获取所述监控光模块检测的响应电流；根据获取的响应电流计算光功率；根据计算的光功率通过所述单片机调整被调试光模块中的偏置电流，进行所述被调试光模块的光功率的调试。