[发明专利]直接成形制备带硅的方法及硅片直接成形装置有效
申请号: | 201310008252.4 | 申请日: | 2013-01-10 |
公开(公告)号: | CN103060902A | 公开(公告)日: | 2013-04-24 |
发明(设计)人: | 钟云波;沈喆;黄靖文;龙琼;孙宗乾;吴秋芳;李甫;周鹏伟;董立城;郑天祥 | 申请(专利权)人: | 上海大学 |
主分类号: | C30B15/36 | 分类号: | C30B15/36;C30B15/22;C30B29/06 |
代理公司: | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人: | 何文欣 |
地址: | 200444*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种直接成形制备带硅的方法,在硅片和硅熔体的固液界面区域施加交变磁场,在固液界面前沿处的硅熔体中形成感生电流,通过交变磁场和感生电流的共同作用,在固液界面处形成垂直固液界面并指向硅熔体内部的电磁挤压力,调整电磁挤压力的大小,使电磁挤压力完全抵消硅片窄边固液界面处向内的表面张力,从而使柔性的电磁力约束并稳定固液界面的形状,使柔性的电磁力约束的硅熔体成形并持续凝固,然后将凝固的带状硅铸坯持续拉出,直接制备带硅。本发明还公开了一种硅片直接成形装置,包括硅料熔化保温装置、加料装置、直拉引锭装置和带硅软接触成形装置,直接制备带硅,实现洁净生产,减少硅片缺陷,实现大规模直接生产带硅的工业应用。 | ||
搜索关键词: | 直接 成形 制备 方法 硅片 装置 | ||
【主权项】:
一种直接成形制备带硅的方法,其特征在于:在固体的硅片和硅熔体的固液界面区域施加交变磁场,而交变磁场又在固液界面前沿处的硅熔体中形成感生电流,通过交变磁场和感生电流的共同作用,在硅片和硅熔体的固液界面处,形成垂直固液界面并指向硅熔体内部的电磁挤压力,通过调整交变磁场强度来调整电磁挤压力的大小,使电磁挤压力完全抵消硅片窄边固液界面处向内的表面张力,从而使柔性的电磁力约束并稳定硅片和硅熔体的固液界面的形状,保持硅熔体的温度恒定,特别同时在硅片和硅熔体的固液界面区域设置冷却温度梯度,使柔性的电磁力约束的硅熔体成形并持续凝固,然后将凝固的带状硅铸坯持续拉出,直接制备带硅。
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