[发明专利]能抗PID效应的太阳电池钝化减反膜有效
申请号: | 201310008588.0 | 申请日: | 2013-01-10 |
公开(公告)号: | CN103022160A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 李中兰;杨阳;威灵顿·皮埃尔J | 申请(专利权)人: | 常州天合光能有限公司 |
主分类号: | H01L31/0216 | 分类号: | H01L31/0216 |
代理公司: | 常州市科谊专利代理事务所 32225 | 代理人: | 孙彬 |
地址: | 213022 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种能抗PID效应的太阳电池钝化减反膜,有两种结构,第一种:该钝化减反膜的底层为钝化减反层SiNx,折射率为2.0-2.1,厚度为70-80nm;该钝化减反膜的顶层为导电层非晶硅层,厚度为3-10nm。第二种:该钝化减反膜的底层为钝化层SiNx,折射率为2.2-2.3,厚度为9-11nm;b、该钝化减反膜的中间层为导电层非晶硅层,厚度为3-10nm;该钝化减反膜的顶层为减反层SiNx层,折射率为2.0-2.1,厚度为60-70nm。应用本发明所述钝化减反膜的太阳电池,可从电池端有效地预防PID效应,且本发明基于目前的传统传统电池工艺,只改变减反膜的成分和厚度组合,能与目前的电池工艺兼容,易于实现。本发明所述能抗PID效应的钝化减反膜,适用于传统P型电池,也适用于高效背钝化电池,EWT、MWT电池,N型IBC电池等。 | ||
搜索关键词: | pid 效应 太阳电池 钝化 减反膜 | ||
【主权项】:
一种能抗PID效应的太阳电池钝化减反膜,其特征在于:a、该钝化减反膜的底层为钝化减反层SiNx,折射率为2.0‑2.1,厚度为70‑80nm;b、该钝化减反膜的顶层为导电层非晶硅层,厚度为3‑10nm。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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