[发明专利]能抗PID效应的太阳电池钝化减反膜有效

专利信息
申请号: 201310008588.0 申请日: 2013-01-10
公开(公告)号: CN103022160A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 李中兰;杨阳;威灵顿·皮埃尔J 申请(专利权)人: 常州天合光能有限公司
主分类号: H01L31/0216 分类号: H01L31/0216
代理公司: 常州市科谊专利代理事务所 32225 代理人: 孙彬
地址: 213022 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种能抗PID效应的太阳电池钝化减反膜,有两种结构,第一种:该钝化减反膜的底层为钝化减反层SiNx,折射率为2.0-2.1,厚度为70-80nm;该钝化减反膜的顶层为导电层非晶硅层,厚度为3-10nm。第二种:该钝化减反膜的底层为钝化层SiNx,折射率为2.2-2.3,厚度为9-11nm;b、该钝化减反膜的中间层为导电层非晶硅层,厚度为3-10nm;该钝化减反膜的顶层为减反层SiNx层,折射率为2.0-2.1,厚度为60-70nm。应用本发明所述钝化减反膜的太阳电池,可从电池端有效地预防PID效应,且本发明基于目前的传统传统电池工艺,只改变减反膜的成分和厚度组合,能与目前的电池工艺兼容,易于实现。本发明所述能抗PID效应的钝化减反膜,适用于传统P型电池,也适用于高效背钝化电池,EWT、MWT电池,N型IBC电池等。
搜索关键词: pid 效应 太阳电池 钝化 减反膜
【主权项】:
一种能抗PID效应的太阳电池钝化减反膜,其特征在于:a、该钝化减反膜的底层为钝化减反层SiNx,折射率为2.0‑2.1,厚度为70‑80nm;b、该钝化减反膜的顶层为导电层非晶硅层,厚度为3‑10nm。
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