[发明专利]一种测量应力位移的光纤宏弯损耗传感器的制造方法无效
| 申请号： | 201310008808.X | 申请日： | 2013-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN103090893A | 公开（公告）日： | 2013-05-08 |
| 发明（设计）人： | 彭星玲;张华;李玉龙 | 申请（专利权）人： | 南昌大学 |
| 主分类号： | G01D5/32 | 分类号： | G01D5/32;G01B11/02;G01L1/24 |
| 代理公司： | 南昌洪达专利事务所 36111 | 代理人： | 刘凌峰 |
| 地址： | 330000 江西省*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 一种测量应力位移的光纤宏弯损耗传感器的制造方法，它包括以下步骤：（1）取单模石英光纤，将一根单模石英光纤中间段，长度为65-100mm，均匀涂抹上丙烯酸涂料，进行表面黑化处理，自然晾干后控制涂覆后光纤的直径为0.3-0.4mm；（2）将光纤弯曲，形成半径为10-20mm的光纤环；（3）取两块厚度为1mm，边长大于光纤环直径20-40毫米的方形铝合金板；（4）将光纤环通过502胶水粘贴的方法垂直固定在两块铝合金板之间，保持两块铝合金板完全对齐，向铝合金板施加压力，测量通过受力后光纤环的光功率变化，即可获得测量应力位移的光纤宏弯损耗传感器；它具有结构简单、成本低、灵敏度高、可实现应力位移双物理量测量的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 应力 位移 光纤 损耗 传感器 制造 方法 | ||
【主权项】：
一种测量应力位移的光纤宏弯损耗传感器的制造方法，其特征在于所述制造方法包括以下步骤：（1）该传感器使用单模石英光纤，将一根单模石英光纤中间段，长度为65‑100mm，均匀涂抹上丙烯酸涂料，进行表面黑化处理，自然晾干后控制涂覆后光纤的直径为0.3‑0.4mm；（2）将黑化处理的光纤弯曲，形成半径为10‑20mm的光纤环；（3）取两块厚度为1mm，边长大于光纤环直径20‑40毫米的方形铝合金板；（4）将光纤环通过502胶水粘贴的方法垂直固定在两块铝合金板之间，保持两块铝合金板完全对齐，向铝合金板施加压力，受力后光纤环的位移也发生改变，测量通过受力后光纤环的光功率变化，即可获得测量应力位移的光纤宏弯损耗传感器。
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