[发明专利]薄壁套圈外径公差和椭圆度的测量方法有效

专利信息
申请号: 201310008974.X 申请日: 2013-01-11
公开(公告)号: CN103063183B 公开(公告)日: 2013-04-24
发明(设计)人: 张娟娟;张志恒;郝雪玲;李红 申请(专利权)人: 洛阳轴研科技股份有限公司
主分类号: G01B21/10 分类号: G01B21/10;G01B21/20
代理公司: 洛阳市凯旋专利事务所 41112 代理人: 符继超
地址: 471039 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 一种薄壁套圈外径公差和椭圆度的测量方法,测台(2)通过沉头螺钉(3)水平固定在底座(1)上方,表架(6)联接表托(5)并通过螺钉(7)用于固定测表(4),根据标准薄壁套圈的外径初步调整两个移动支点(8)到支撑位并使测表的测头对准0位,调整测表的测量范围并控制在0~2 h之间,取出标准薄壁套圈并换上被测薄壁套圈(9),沿所述侧支点与所述垂直支点方向转动被测薄壁套圈一圈以上,从测表上即可读出最大值A和最小值B,当(A+B)/2≤h且A-B≤h1时,说明被测薄壁套圈的被测外径公差和被测椭圆度误差均符合其加工要求。通过一次检测就能测出薄壁套圈的外径公差和椭圆度误差,适用于外径尺寸较大和较小的薄壁套圈。
搜索关键词: 薄壁 外径 公差 椭圆 测量方法
【主权项】:
一种薄壁套圈外径公差和椭圆度的测量方法,设定加工出的被测薄壁套圈(9)以及标准薄壁套圈的外径均为ФD,被测薄壁套圈(9)的外径上偏差为0,被测薄壁套圈(9)的外径下偏差为‑h,被测薄壁套圈(9)外径的椭圆度误差为h1,标准薄壁套圈的外径上偏差以及下偏差均为0,其特征是:将测台(2)通过沉头螺钉(3)水平固定在底座(1)上方,测台(2)上分别设置有垂直燕尾槽和倾斜燕尾槽,所述倾斜燕尾槽与所述垂直燕尾槽的夹角呈45°,在所述倾斜燕尾槽以及所述垂直燕尾槽内分别通过燕尾螺钉联接两个移动支点(8),将所述垂直燕尾槽内联接的移动支点称其为垂直支点,将所述倾斜燕尾槽联接的移动支点称其为侧支点,在所述垂直燕尾槽的上端联接有表架(6),表架(6)上联接表托(5),表托(5)的内孔通过其侧面配置的螺钉(7)用于固定测表(4)的上表杆,这样就保证了测表(4)的测头垂直指向所述垂直支点;根据所述标准薄壁套圈的外径初步调整所述垂直支点与所述侧支点之间距,再将所述标准薄壁套圈放在所述垂直支点和所述侧支点上,向上微调并固定所述垂直支点,使所述标准薄壁套圈接触测表(4)的测头并旋转测表(4)的表盘使其对准0位,同时微调并固定所述侧支点,这时测表(4)的测头到所述垂直支点的间距=所述ФD;松动螺钉(7)使测表(4)向下垂直微移,待测表(4)指向2 h时固定螺钉(7),此时测表(4)的测量范围就控制在0~2 h之间;取出所述标准薄壁套圈并换上被测薄壁套圈(9),沿所述侧支点与所述垂直支点方向转动被测薄壁套圈(9)一圈以上,从测表(4)上即可读出最大值A和最小值B,当(A+B)/2≤h且A‑B≤h1时,说明被测薄壁套圈(9)的被测外径公差和被测椭圆度误差均符合其加工要求;当(A+B)/2≤h但A‑B>h1时,说明被测薄壁套圈(9)的被测外径公差符合其加工要求但被测椭圆度误差不符合其加工要求;当(A+B)/2>h但A‑B≤h1时,说明被测薄壁套圈(9)的被测椭圆度误差符合其加工要求但被测外径公差不符合其加工要求;当(A+B)/2>h且A‑B>h1时,说明被测薄壁套圈(9)的被测外径公差和被测椭圆度误差均不符合其加工要求。
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