[发明专利]测量坐标校正方法和三维测量器有效
| 申请号： | 201310010185.X | 申请日： | 2013-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN103206933B | 公开（公告）日： | 2017-07-18 |
| 发明（设计）人： | 福田满;水上一己;安西博忠;小野宪次 | 申请（专利权）人： | 株式会社三丰 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00;G01B21/20 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人： | 于小宁 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种测量坐标校正方法，其校正放置在底座上的测量物体的测量坐标，其中所述测量坐标校正方法包括重量获取步骤、位置获取步骤和校正步骤。重量获取步骤获取与测量物体的重量有关的信息。位置获取步骤获取与测量物体在底座上的位置有关的信息。校正步骤基于测量物体的重量和位置校正测量物体的测量坐标。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 坐标 校正 方法 三维 测量器 | ||
【主权项】：
一种校正位于底座上的测量物体的测量坐标的测量坐标校正方法，该校正方法包括：通过在底座的与所述测量物体所位于的一侧相对的一侧附接到所述底座的多个重量传感器获取与测量物体的重量有关的重量信息；获取与测量物体在底座上的位置有关的位置信息；以及基于测量物体的重量和位置校正测量物体的测量坐标，其中：所述获取位置信息包括通过相对于多个重量传感器的位置和来自多个重量传感器的每一个的检测值计算测量物体的位置而获取与测量物体的位置有关的信息。
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