[发明专利]一种氧化铝太阳电池减反膜的制备方法无效
申请号: | 201310016883.0 | 申请日: | 2013-01-17 |
公开(公告)号: | CN103035783A | 公开(公告)日: | 2013-04-10 |
发明(设计)人: | 杨雯;段良飞;杨培志;张力元;自兴发;冷天久 | 申请(专利权)人: | 云南师范大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;C23C14/35 |
代理公司: | 昆明慧翔专利事务所 53112 | 代理人: | 程韵波;邓丽春 |
地址: | 650092 云南省昆明市*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | 本发明提出一种氧化铝太阳电池减反膜的制备方法,以单晶硅Si(100晶相)为衬底,利用磁控溅射技术通过控制O2分压和腔室压强,溅射的Al在腔室中氧化得到高折射率、低吸收系数的Al2O3减反膜。通过调控氧气比例,可以在室温下直接溅射制备得Al2O3减反膜,能耗低,有利于节能减排。制备的Al2O3膜,在波长为300nm~1100nm区间内,透过率为85%~92%,折射率为1.57~1.76。 | ||
搜索关键词: | 一种 氧化铝 太阳电池 减反膜 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种氧化铝太阳电池减反膜的制备方法, 对单晶硅Si衬底进行超声清洗,将磁控溅射腔抽真空;通入Ar气和O2气,采用Al靶材,溅射制备Al2O3太阳电池减反膜,其特征在于:其按以下步骤实施,1)、 依次使用丙酮、无水乙醇和去离子水对单晶硅Si(100晶项)衬底进行超声清洗5min~10min;将磁控溅射镀膜仪的腔室真空抽至≤6.0×10‑6pa;2)、 通入Ar气和O2气,工作压强为1.0pa~2.0pa, O2气占Ar气和O2气的总体积比10~35%, 采用纯度为99.99%的Al靶材,以30W~60W的溅射功率在单晶硅Si(100)衬底上溅射Al膜, Al膜在腔室中氧化得到Al2O3减反膜。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的