[发明专利]透射式量化相位和荧光联合成像的显微镜有效
申请号: | 201310018167.6 | 申请日: | 2013-01-17 |
公开(公告)号: | CN103941385A | 公开(公告)日: | 2014-07-23 |
发明(设计)人: | 罗志勇;付彦辉;张翔;纪伟;贾策;仓怀兴;徐涛 | 申请(专利权)人: | 中国科学院生物物理研究所 |
主分类号: | G02B21/06 | 分类号: | G02B21/06;G02B21/36;G01N21/64;G01N21/45 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 曹玲柱 |
地址: | 100101*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种透射式量化相位和荧光联合成像的显微镜。该显微镜包括:光源系统100、第一分束组件200、参考光路300、物光光路400、第五分光棱镜500、干涉成像系统600以及荧光成像系统700。本发明将荧光成像技术和量化相位成像技术相结合,实现了细胞结构和荧光分子同时成像。 | ||
搜索关键词: | 透射 量化 相位 荧光 联合 成像 显微镜 | ||
【主权项】:
一种透射式量化相位和荧光联合成像的显微镜,其特征在于,包括:光源系统(100),用于提供不同波长的第一激光束(1)和第二激光束(2);第一分束组件(200),用于将第一激光束(1)分束为第一参考光束(11)和第一物光光束(12);将第二激光束分束为第二参考光束(21)和第二物光光束(22),第一参考光束(11)和第二参考光束(21)射入参考光路(300);第一物光光束(12)和第二物光光束(22)射入物光光路(400);参考光路(300),用于将第一参考光束(11)和第二参考光束(21)投射至第五分光棱镜(500);物光光路(400),用于将第一物光光束(12)和第二物光光束(22)投射至样品上,携带样品信息的第一物光光束(12)和第二物光光束(22)被投射至第五分光棱镜(500);同时,由第一物光光束(12)和第二物光光束(22)激发样品产生的荧光光束也被投射至第五分光棱镜(500);第五分光棱镜(500),用于将携带样品信息的第一物光光束(12)和第二物光光束(22)反射至干涉成像系统(600);同时,由第一物光光束(12)和第二物光光束(22)激发样品产生的荧光光束被第五分光棱镜(500)透射至荧光成像系统(700);干涉成像系统(600),用于将第一参考光束(11)和第一物光光束(12),及第二参考光束(21)和第二物光光束(22)进行干涉成像;荧光成像系统(700),用于对第一物光光束(12)和第二物光光束(22)激发的荧光光束进行成像。
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