[发明专利]一种用于液晶空间光相位调制器相位检测的方法有效

专利信息
申请号: 201310018900.4 申请日: 2013-01-18
公开(公告)号: CN103105236A 公开(公告)日: 2013-05-15
发明(设计)人: 岳慧敏;胡泽雄;宋雷;吴雨祥;刘永智;刘永 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01J9/02 分类号: G01J9/02;G02F1/13
代理公司: 成都华典专利事务所(普通合伙) 51223 代理人: 徐丰;杨保刚
地址: 610000 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供了一种用于液晶空间光相位调制器相位检测的新方法,该方法以激光干涉系统为主要检测光路,包括激光器、起偏器、滤波器、激光干涉系统及数码相机。所述激光器发出的激光经过偏振片后变为线偏振光,再通过滤波器将激光出射光变得更加均匀,之后将激光分为两路,用待测液晶空间光相位调制器对其中一路光进行调制,用数码相机采集多帧相移干涉图像。计算干涉条纹图像的帧间强度相关(IIC)矩阵,通过最小二乘迭代得到每帧干涉图样的相位变化。该方法具有测量系统简单、对相移和干涉图样要求低、高精度等优点。
搜索关键词: 一种 用于 液晶 空间 相位 调制器 检测 方法
【主权项】:
一种用于液晶空间光相位调制器相位检测的新方法,其特征在于:采用激光干涉系统为主要空间测试光路,将激光器发出的激光经过偏振片后变为线偏振光,再通过滤波器将激光出射光变得均匀,滤波器输出的激光经分光板分为参考光和信号光,用待测液晶空间光相位调制器对信号光进行调制,用数码相机采集多帧相移干涉图像,通过帧间强度相关方法计算干涉条纹图像的IIC矩阵,通过最小二乘迭代得到每帧干涉图样的相位变化。
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