[发明专利]测量设备和测量方法有效

专利信息
申请号: 201310019942.X 申请日: 2013-01-18
公开(公告)号: CN103217147A 公开(公告)日: 2013-07-24
发明(设计)人: 关晃仁;冈田隆三 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: G01C11/00 分类号: G01C11/00;G01C11/08
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 陈松涛;夏青
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 根据实施例,一种测量设备包括:显示控制器,被配置成在显示单元上显示从不同视点拍摄的多幅图像中的第一图像;设置单元,被配置成设置第一图像上的测量位置;第一计算器,被配置成计算多幅图像中的不同于第一图像的第二图像上的与测量位置对应的对应位置;第二计算器,被配置成使用第一图像、测量位置、第二图像以及对应位置来计算测量位置的三维位置和三维位置的误差;以及选择单元,被配置成当每次由第二计算单元计算三维位置和误差时,确定多幅图像的多个图像对中是否具有三维位置的误差小于第二计算器所计算的误差的图像对,并且还被配置成当具有所述图像对时,选择所述图像对,但是当不具有所述图像对时,决定三维位置。当每次选择单元选择图像对时,第二计算器使用在图像对中包括的新的第一图像、三维位置被投影到新的第一图像上的第一投影位置、在图像对中包括的新的第二图像、以及三维位置被投影到新的第二图像上的第二投影位置,来计算测量位置的新的三维位置和误差。
搜索关键词: 测量 设备 测量方法
【主权项】:
一种测量设备,包括:显示控制器,被配置成在显示单元上显示从不同视点拍摄的多幅图像中的第一图像;设置单元,被配置成设置所述第一图像上的测量位置;第一计算器,被配置成计算所述多幅图像中的不同于所述第一图像的第二图像上的与所述测量位置对应的对应位置;第二计算器,被配置成使用所述第一图像、所述测量位置、所述第二图像以及所述对应位置来计算所述测量位置的三维位置和所述三维位置的误差;以及选择单元,被配置成当每次所述第二计算单元计算所述三维位置和所述误差时,确定所述多幅图像的多个图像对中是否存在所述三维位置的误差小于所述第二计算器计算的所述误差的图像对,并且所述选择单元还被配置成当存在所述图像对时,选择所述图像对,但是当不存在所述图像对时,决定所述三维位置,其中,当每次所述选择单元选择所述图像对时,所述第二计算器使用在所述图像对中包括的新的第一图像、所述三维位置被投影到所述新的第一图像上的第一投影位置、在所述图像对中包括的新的第二图像、以及所述三维位置被投影到所述新的第二图像上的第二投影位置,来计算所述测量位置的新的三维位置和误差。
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