[发明专利]一种进行下行信道特性参数测量的方法及用户设备有效
| 申请号： | 201310019984.3 | 申请日： | 2013-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN103945447B | 公开（公告）日： | 2019-11-08 |
| 发明（设计）人： | 邱海杰;周续涛;李迎阳 | 申请（专利权）人： | 北京三星通信技术研究有限公司;三星电子株式会社 |
| 主分类号： | H04W24/08 | 分类号： | H04W24/08 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人： | 蒋欢;王琦 |
| 地址： | 100125 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提出了一种利用虚共址的多重参考信号资源进行下行信道特性参数测量的方法，包括以下步骤：用户设备接收信令，从中获取测量下行信道特性参数所对应的满足虚共址关系的多重参考信号资源的组合及其相应的配置信息；用户设备在所述满足虚共址关系的多重参考信号资源上进行下行信道特性参数的测量，并根据测量配置上报相应的下行信道特性参数。本申请还提出了一种用户设备。本申请通过合理地配置多重参考信号资源满足虚共址关系，能够使UE在保持合理的复杂度和功耗的前提下，有效地提高UE对下行信道特性参数的测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 进行 下行 信道 特性 参数 测量 方法 用户 设备 | ||
【主权项】：
1.一种进行下行信道特性参数测量的方法，其特征在于，包括以下步骤：用户设备接收信令，从所述信令中获取满足虚共址关系的多重参考信号资源的组合及其配置信息；所述满足虚共址关系的多重参考信号资源是指：所述多重参考信号资源对如下的一种或者多种信道特性参数是一致的：时延扩展、平均增益、频率偏移、多普勒扩展、平均时延；用户设备在所述满足虚共址关系的多重参考信号资源进行下行信道特性参数的测量；用户设备根据测量配置，上报测量得到的下行信道特性参数。
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