[发明专利]光纤耦合透镜中光纤与透镜同心偏差测量方法无效

专利信息
申请号: 201310026732.3 申请日: 2013-01-24
公开(公告)号: CN103968798A 公开(公告)日: 2014-08-06
发明(设计)人: 郭章纬 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01B21/24 分类号: G01B21/24;G01B21/00;G02B6/32
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种同心偏差测量方法,用来测量光纤耦合透镜中光纤与透镜之间的同心偏差,所述光纤耦合透镜包括透镜和容置槽,所述透镜所在的表面具有定位结构,所述光纤位于所述容置槽中,所述同心偏差测量方法包括:将光纤组装入所述光纤耦合透镜中的容置槽内;将组装入光纤的光纤耦合透镜固定;以所述定位结构为基准,测量所述透镜的位置;向所述光纤中输入光线以点亮所述光纤;以所述定位结构为基准,测量所述光纤的位置;比较所述光纤和所述透镜的位置,得到所述光纤与透镜的同心偏差。
搜索关键词: 光纤 耦合 透镜 同心 偏差 测量方法
【主权项】:
一种同心偏差测量方法,用来测量光纤耦合透镜中光纤与透镜之间的同心偏差,所述光纤耦合透镜包括透镜和容置槽,所述透镜所在的表面具有定位结构,所述光纤位于所述容置槽中,所述同心偏差测量方法包括:将光纤组装入所述光纤耦合透镜中的容置槽内;将组装入光纤的光纤耦合透镜固定;以所述定位结构为基准,测量所述透镜的位置;向所述光纤中输入光线以点亮所述光纤;以所述定位结构为基准,测量所述光纤的位置;比较所述光纤和所述透镜的位置,得到所述光纤与透镜的同心偏差。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司,未经鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310026732.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code