[发明专利]芯片频率的测试方法、装置及系统有效
| 申请号： | 201310027030.7 | 申请日： | 2013-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN103116069A | 公开（公告）日： | 2013-05-22 |
| 发明（设计）人： | 郑虹;白利;李国栋 | 申请（专利权）人： | 深圳市海思半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R23/02 | 分类号： | G01R23/02 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 518129 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种芯片频率的测试方法、装置及系统，涉及电学领域，能够提高芯片频率的测试结果的可靠性，并且降低芯片的生产成本。该方法包括：获取与芯片的各有效路径对应的各个功能测试向量；将各个所述功能测试向量的格式转换为自动测试仪器支持的格式；将转换后的各个所述功能测试向量存储入所述芯片的内存中，以使所述自动测试仪器运行存储于所述芯片的内存中的各个所述功能测试向量并获得所述芯片在分别运行各个所述功能测试向量时的各最高频率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 频率 测试 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
一种芯片频率的测试方法，其特征在于，包括：获取与芯片的各测试路径对应的各个功能测试向量，所述测试路径包括关键路径和有效路径；将各个所述功能测试向量的格式转换为自动测试仪器支持的格式；将转换后的各个所述功能测试向量存储入所述芯片或板级系统的内存中，以使所述自动测试仪器运行存储于所述芯片或板级系统的内存中的各个所述功能测试向量并获得所述芯片在分别运行各个所述功能测试向量时的各最高频率。
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