[发明专利]一种在(111)型硅片上制作硅锥体结构的方法有效

专利信息
申请号: 201310028147.7 申请日: 2013-01-25
公开(公告)号: CN103101876A 公开(公告)日: 2013-05-15
发明(设计)人: 李铁;俞骁;王跃林 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 余明伟
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种在(111)型硅片上制作硅锥体结构的方法,先在硅片表面制作至少具有3个两两相邻的刻蚀窗口的掩膜图形;然后将刻蚀窗口下方的硅片用ICP干法刻蚀至一预设深度;进行各向异性湿法腐蚀使3个腐蚀槽的交界处形成由上锥部、下锥部及连接部组成的沙漏结构;进行热氧化,使所述连接部完全氧化,且使所述下锥部表面氧化以于所述下锥部内部形成硅锥体结构;去除所述连接部的氧化硅以使所述上锥部和下锥部分离,同时去除所述下锥部表面的氧化硅,形成硅锥体结构。本发明只需要常规的MEMS工艺,通过ICP干法刻蚀、各向异性湿法腐蚀和氧化工艺即可制作出顶端直径为10~100纳米,集成度高,可规模化生产的硅锥体结构,其成本低廉,制作方便,在纳米探针领域具有应用前景。
搜索关键词: 一种 111 硅片 制作 锥体 结构 方法
【主权项】:
一种在(111)型硅片上制作硅锥体结构的方法,其特征在于,所述方法至少包括以下步骤:1)提供一(111)型硅片,于该硅片表面制作至少具有3个两两相邻的刻蚀窗口的掩膜图形;2)采用ICP干法刻蚀工艺,将各该刻蚀窗口下方的硅片ICP干法刻蚀至一预设深度;3)对各该刻蚀窗口下方的硅片进行各向异性湿法腐蚀,形成上下表面为六边形的多个腐蚀槽,且相邻的3个腐蚀槽的交界处形成由上锥部、下锥部及连接部组成的沙漏结构;4)采用自限制氧化工艺对上述所得结构进行热氧化,使所述沙漏结构的连接部完全氧化成氧化硅,且使所述下锥部表面逐渐氧化以于所述下锥部内部形成硅锥体结构;5)去除所述连接部的氧化硅以使所述上锥部和下锥部分离,同时去除所述下锥部表面的氧化硅,形成连接在硅片上的硅锥体结构。
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