[发明专利]蚀刻NPN掺杂区域形貌以进行失效检验的组合物及检验方法有效

专利信息
申请号: 201310028802.9 申请日: 2013-01-25
公开(公告)号: CN103965914A 公开(公告)日: 2014-08-06
发明(设计)人: 傅蓓芬;吴显欣 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: C09K13/08 分类号: C09K13/08;G01N1/30;G01N13/00
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人: 张静洁;徐雯琼
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开一种有效蚀刻NPN掺杂区域形貌以找出失效原因的组合物,用于在PN结剖面轮廓失效检验中进行结染色,该组合物包含:硝酸、氢氟酸、乙酸、水、五水硫酸铜;该组合物的摩尔比为:硝酸:氢氟酸:乙酸:水:五水硫酸铜=2.9712:0.1734:7:5.18:0.08。本发明组合物所采用的组份都是非常便宜的化学溶剂,降低成本;组合物制备方便,任何检验人员都可以简单的自行制备本发明组合物的化学配比,其样本准备远简单于采用电子检验方式中例如SSRM或SCM的电子设备,实现不需要物色和授权外包的供应商提供检验材料,便于进行PN结剖面轮廓失效检验,具有高成功率。
搜索关键词: 蚀刻 npn 掺杂 区域 形貌 进行 失效 检验 组合 方法
【主权项】:
一种有效蚀刻NPN掺杂区域形貌以找出失效原因的组合物,用于在PN结剖面轮廓失效检验中进行结染色,其特征在于,该组合物包含:硝酸、氢氟酸、乙酸、水、五水硫酸铜;该组合物的摩尔比为:硝酸:氢氟酸:乙酸:水:五水硫酸铜=2.9712:0.1734:7:5.18:0.08。
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