[发明专利]开关测试装置

摘要

本发明公开了一种开关测试装置，开关测试装置用于测试一待测开关，待测开关包括旋钮及主体，旋钮包括第一开关位置及第二开关位置。开关测试装置包括固定座、驱动装置、齿条、齿轮及固定架，齿轮与齿条相啮合，旋钮卡合于齿轮上，与齿轮同轴转动，主体固定于固定架上，驱动装置驱动齿条反复直线移动，当旋钮转到第一开关位置时，驱动装置改变齿条的运动方向，齿轮带动旋钮向第二开关位置转动，当旋钮转到第二开关位置时，驱动装置改变齿条的运动方向，齿轮带动旋钮向第一开关位置转动。通过驱动装置反复旋转待测开关，并利用待测开关的第一开关位置及第二开关位置自动换向，从而无需人工，测试效率高，一致性好。

主权项

一种开关测试装置，所述开关测试装置用于测试一待测开关，所述待测开关包括旋钮及主体，所述旋钮转动连接于所述主体上，所述旋钮包括第一开关位置及第二开关位置，其特征在于，所述开关测试装置包括固定座、驱动装置、齿条、齿轮及固定架，所述齿条滑动连接于所述固定座上，所述齿轮转动连接于所述固定座上，所述齿轮与所述齿条相啮合，所述旋钮卡合于所述齿轮上，与所述齿轮同轴转动，所述主体固定于所述固定架上，所述固定架相对所述固定座固定设置，所述驱动装置驱动所述齿条反复直线移动，所述待测开关与所述驱动装置电性连接，当所述旋钮转到所述第一开关位置时，所述驱动装置改变所述齿条的运动方向，所述齿轮带动所述旋钮向第二开关位置转动，当所述旋钮转到所述第二开关位置时，所述驱动装置改变所述齿条的运动方向，所述齿轮带动所述旋钮向第一开关位置转动。