[发明专利]用于荧光检测的光学系统和微粒分析装置无效
| 申请号： | 201310032493.2 | 申请日： | 2013-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN103245643A | 公开（公告）日： | 2013-08-14 |
| 发明（设计）人： | 冈本好喜 | 申请（专利权）人： | 索尼公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及用于荧光检测的光学系统和微粒分析装置。该光学系统包括：两个抛物面镜：第一抛物面镜和第二抛物面镜，并且从不同方向入射的荧光光束被第一抛物面镜作为平行光束反射至第二抛物面镜，并通过第二抛物面镜会聚到一点。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 荧光 检测 光学系统 微粒 分析 装置 | ||
【主权项】：
一种用于荧光检测的光学系统，包括：两个抛物面镜：第一抛物面镜和第二抛物面镜，其中，从不同方向入射的荧光光束被所述第一抛物面镜作为平行光束反射至所述第二抛物面镜，并通过所述第二抛物面镜会聚到一点。
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