[发明专利]基于关断过电压的两电平叠层母排杂感的测试电路及方法无效
| 申请号： | 201310032910.3 | 申请日： | 2013-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN103134994A | 公开（公告）日： | 2013-06-05 |
| 发明（设计）人： | 张鲁华;宋小亮;尹正兵;吴竞之;陈国栋;董祖毅 | 申请（专利权）人： | 上海电气集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 上海兆丰知识产权代理事务所(有限合伙) 31241 | 代理人： | 章蔚强 |
| 地址： | 200336 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于关断过电压的两电平叠层母排杂感的测试电路及方法，电路包括：叠层母排、第一IGBT、第二IGBT、直流支撑电容、直流电源以及续流电抗器。方法包括：第二IGBT保持关断，第一IGBT t0时刻开通、t1时刻关断、t2时刻再开通、t3时刻再关断；利用t3时刻关断过程中第一IGBT集电极和第二IGBT发射极的峰值电压与稳态电压的差值ΔVce，结合关断过程中流经第一IGBT集电极的电流Ic的下降率ΔIc/Δt，通过电感的动态特性Lσ=ΔVce/（ΔIc/Δt）获得叠层母排杂感Lσ精确的数值。本发明对测试条件的要求宽松，便于实际操作，测试结果精确度高。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 过电压 电平 叠层母排 杂感 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
一种基于关断过电压的两电平叠层母排杂感的测试电路，其特征在于，包括叠层母排、第一IGBT、第二IGBT、直流支撑电容、直流电源以及续流电抗器，其中：所述叠层母排的正端分别连接所述第一IGBT的集电极、所述直流支撑电容的正极以及所述直流电源的正极；所述叠层母排的负端分别连接所述第二IGBT的发射极、所述直流支撑电容的负极以及所述直流电源的负极；所述第一IGBT的发射极连接所述第二IGBT的集电极；所述续流电抗器的一端连接所述第二IGBT的集电极，另一端连接所述第二IGBT的发射极。
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