[发明专利]一种匹配电路的调试方法和装置有效
申请号: | 201310034619.X | 申请日: | 2013-01-29 |
公开(公告)号: | CN103152005A | 公开(公告)日: | 2013-06-12 |
发明(设计)人: | 底浩;梁英;孙伟 | 申请(专利权)人: | 北京小米科技有限责任公司 |
主分类号: | H03H7/38 | 分类号: | H03H7/38 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 张耀光 |
地址: | 100102 北京市朝阳区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种匹配电路的调试方法和装置,属于电子技术领域。所述方法包括:预先构建有所述匹配电路的初始实体电路,所述匹配电路的第一信号端口与第一目标电路连接,所述匹配电路的第二信号端口与第二目标电路连接;获取所述匹配电路和所述第一目标电路在第二信号端口处的阻抗;根据获取的阻抗和所述第二目标电路对应的目标匹配阻抗,确定对所述匹配电路进行匹配调整的理论调整参数;根据确定出的所述理论调整参数,对所述匹配电路进行匹配调整。采用本发明,可以提高对匹配电路进行调试的效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 匹配 电路 调试 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种匹配电路的调试方法,其特征在于,预先构建有所述匹配电路的初始实体电路,所述匹配电路的第一信号端口与第一目标电路连接,所述匹配电路的第二信号端口与第二目标电路连接,所述方法包括:获取所述匹配电路和所述第一目标电路在第二信号端口处的阻抗;根据获取的阻抗和所述第二目标电路对应的目标匹配阻抗,确定对所述匹配电路进行匹配调整的理论调整参数;根据确定出的所述理论调整参数,对所述匹配电路进行匹配调整。
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