[发明专利]半导体器件及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201310038524.5 申请日: 2013-01-31
公开(公告)号: CN103681680A 公开(公告)日: 2014-03-26
发明(设计)人: 权五哲;李起洪;皮昇浩 申请(专利权)人: 爱思开海力士有限公司
主分类号: H01L27/112 分类号: H01L27/112;H01L21/8246
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 俞波;石卓琼
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明公开了一种半导体器件,所述半导体器件包括:沟槽,所述沟槽形成在衬底中;第一层叠结构,所述第一层叠结构形成在沟槽中,并且包括多个第一材料层和多个第二材料层,所述多个第一材料层和所述多个第二材料层以一个在另一个顶部上的方式交替层叠;以及晶体管,所述晶体管位于衬底上与第一层叠结构的顶表面相对应的高度。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
一种半导体器件,包括:沟槽,所述沟槽被形成在衬底中;第一层叠结构,所述第一层叠结构被形成在所述沟槽中,并且包括多个第一材料层和多个第二材料层,所述多个第一材料层和所述多个第二材料层以一个在另一个顶部上的方式交替层叠;以及晶体管,所述晶体管位于所述衬底上与所述第一层叠结构的顶表面相对应的高度。
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