[发明专利]邻近检测装置、邻近检测方法及电子设备有效
| 申请号： | 201310039500.1 | 申请日： | 2013-01-31 |
| 公开（公告）号： | CN103294256B | 公开（公告）日： | 2018-08-24 |
| 发明（设计）人： | 安达浩一郎 | 申请（专利权）人： | 株式会社日本显示器 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041;G06F3/044;G02F1/1343;G02F1/1333 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明公开了邻近检测装置、邻近检测方法及电子设备。其中，该邻近检测装置，包括：显示单元，具有显示图像表面，在所述显示图像表面中多个像素电极以矩阵形布置；以及邻近操作检测单元，在其中在叠在所述显示图像表面的位置处布置用于邻近操作检测的透明电极从而形成操作表面，形成所述透明电极的导电薄膜图案的线性图案的间距等于或小于所述像素电极在一个方向上的布置间距。 | ||
| 搜索关键词： | 邻近 检测 装置 方法 电子设备 | ||
【主权项】：
1.一种邻近检测装置，包括：显示单元，具有显示图像表面，在所述显示图像表面中多个像素电极以矩阵形布置；以及邻近操作检测单元，其中，在叠在所述显示图像表面上的位置处布置作为用于邻近操作检测的透明电极的检测电极从而形成操作表面，在形成所述检测电极的导电薄膜图案中形成点状非导电部，所述点状非导电部随机布置在形成所述检测电极的所述导电薄膜图案中，其中，所述导电薄膜图案具有用作电极的电极图案部和不用作电极的伪图案部，所述点状非导电部形成在所述电极图案部和所述伪图案部两者的所述导电薄膜图案中。
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