[发明专利]一种用表面电导率和泄漏电流预测闪络电压的方法有效
申请号: | 201310040885.3 | 申请日: | 2013-02-01 |
公开(公告)号: | CN103076548A | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
发明(设计)人: | 周志成;赵晨龙;高嵩;张军广;王黎明;刘洋;陶风波;马勇;路永玲;陈杰 | 申请(专利权)人: | 江苏省电力公司电力科学研究院;清华大学深圳研究生院;江苏省电力公司;国家电网公司 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12;G06F19/00 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
地址: | 210036 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种用表面电导率和泄漏电流预测闪络电压的方法,测量绝缘子表面电导率,以绝缘子表面电导率作为输入参数,结合绝缘子形状系数参数,建立动态电弧模型,计算泄漏电流发展趋势,得到绝缘子串的最低闪络电压,基于最低闪络电压判断该绝缘子的绝缘裕度及外绝缘水平。本发明根据实测绝缘子串整体电导率,利用动态电弧模型计算泄漏电流的发展趋势,电弧动态模型通过数学方程来描述泄漏电流以及电弧长度随时间的变化规律,更符合真实情况,进而实现绝缘状态判断与污闪预警的目的。 | ||
搜索关键词: | 一种 表面 电导率 泄漏 电流 预测 电压 方法 | ||
【主权项】:
一种用表面电导率和泄漏电流预测闪络电压的方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)测量绝缘子表面电导率,(2)以绝缘子表面电导率作为输入参数,结合绝缘子形状系数参数,建立动态电弧模型,(3)计算泄漏电流发展趋势,(4)得到绝缘子串的最低闪络电压,基于最低闪络电压判断该绝缘子的绝缘裕度及外绝缘水平。
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