[发明专利]一种采用单一光电探测器的激光光强分布精确测量系统有效
申请号: | 201310042283.1 | 申请日: | 2013-02-01 |
公开(公告)号: | CN103090966A | 公开(公告)日: | 2013-05-08 |
发明(设计)人: | 曹章;徐立军;刘畅;辛蕾 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G01J1/00 | 分类号: | G01J1/00;G01J1/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种采用单一光电探测器的激光光强分布精确测量系统,包括激光光源、数字微镜器件、数字微镜器件控制模块、平凸透镜、光电探测器、信号采集装置及计算机。激光光斑投射到数字微镜器件的微镜阵列上,经微镜阵列反射,通过所述平凸透镜会聚后被所述光电探测器的探测面完全接收,光电探测器将光信号转换为电信号被信号采集卡采集并输入计算机。数字微镜器件控制模块控制数字微镜器件上的反射镜阵列,使入射到被选定微镜的光反射到平凸透镜,进而会聚到光电探测器的探测面上,通过遍历微镜阵列实现激光光强分布的测量。本发明的效果是系统结构简单,可靠性高,成本低,可用于激光光强分布的精确测量,具有广泛的应用前景。 | ||
搜索关键词: | 一种 采用 单一 光电 探测器 激光 分布 精确 测量 系统 | ||
【主权项】:
一种采用单一光电探测器的激光光强分布精确测量系统,其特征在于,所述采用单一光电探测器的激光光强分布精确测量系统包括激光光源、数字微镜器件、数字微镜器件控制模块、平凸透镜、光电探测器、信号采集装置及计算机;所述激光光源产生的激光光束入射到所述数字微镜器件的微镜阵列上;入射光经所述数字微镜器件的微镜阵列反射,通过所述平凸透镜会聚后被所述光电探测器的探测面完全接收;所述光电探测器将光信号转换为电信号,被所述信号采集装置采集并输入所述计算机;所述数字微镜器件控制模块控制数字微镜器件上的反射镜阵列,使入射到被选定微镜的光反射到平凸透镜,进而会聚到光电探测器的探测面上,通过遍历微镜阵列实现激光光强分布的精确测量。
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