[发明专利]真空环境下温度比对试验系统有效
| 申请号： | 201310047501.0 | 申请日： | 2013-02-06 |
| 公开（公告）号： | CN103090995A | 公开（公告）日： | 2013-05-08 |
| 发明（设计）人： | 张书锋;贾军伟;栗继军;张明志;杨力;刘展;李绍飞;宋瑞海 | 申请（专利权）人： | 北京东方计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01K15/00 | 分类号： | G01K15/00 |
| 代理公司： | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 | 代理人： | 吴小灿 |
| 地址： | 100086 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 真空环境下温度比对试验系统，所述计量系统有利于通过真空环境下的标准温度传感器对被检的真空环境下温度传感器进行计量，其特征在于，包括均温真空室，所述均温真空室分别连接缓冲真空室和稳压配气室，所述缓冲真空室通过过渡真空室连接分子泵，所述缓冲真空室、所述稳压配气室和所述分子泵各自通过预抽管路连接机械泵。 | ||
| 搜索关键词： | 真空 环境 温度 试验 系统 | ||
【主权项】：
真空环境下温度比对试验系统，其特征在于，包括均温真空室，所述均温真空室分别连接缓冲真空室和稳压配气室，所述缓冲真空室通过过渡真空室连接分子泵，所述缓冲真空室、所述稳压配气室和所述分子泵各自通过预抽管路连接机械泵。
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