[发明专利]带平面衍射光栅测量的具有六自由度粗动台的掩膜台系统有效
申请号: | 201310048772.8 | 申请日: | 2013-02-06 |
公开(公告)号: | CN103105743A | 公开(公告)日: | 2013-05-15 |
发明(设计)人: | 张鸣;朱煜;成荣;杨开明;徐登峰;刘召;刘昊;田丽;张利;叶伟楠;张金;穆海华;尹文生;胡金春 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;G01B11/02;G01B11/26;H02K41/02 |
代理公司: | 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 | 代理人: | 邸更岩 |
地址: | 100084 北京市海淀区1*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 带平面衍射光栅测量的具有六自由度粗动台的掩膜台系统,该系统包括粗动台、精动台和机架;粗动台含有一个粗动台台体、驱动装置和粗动台重力平衡组件,粗动台台体设置在精动台的外部,将精动台包围在中间,实现粗动台的六自由度运动。该掩膜台系统还含有平面衍射光栅传感器测量系统,该测量系统包含六组平面衍射光栅传感器组件,用于测量精动台与基座之间的相对位置,可同时进行三自由度的测量。本发明在调整掩模台姿态的同时既提高了掩模台的速度、加速度和控制带宽,又满足了高运动精度和定位精度的要求,进而提高了光刻机的生产率、套刻精度和分辨率,并且测量精度和测量速度也很高,可适应掩模台的高响应速度、高加速度和高运动定位精度。 | ||
搜索关键词: | 平面 衍射 光栅 测量 具有 自由度 粗动台 掩膜台 系统 | ||
【主权项】:
带平面衍射光栅测量的具有六自由度粗动台的掩膜台系统,该系统包括精动台、粗动台和基座(10),所述的粗动台含有一个粗动台台体(2)和驱动装置,其特征在于:所述的粗动台台体(2)设置在精动台的外部,将精动台包围在中间;所述的驱动装置包括大行程驱动模块和小行程驱动模块两部分,大行程驱动模块由两组关于X轴方向对称布置在粗动台台体(2)两侧的X方向直线电机组成,小行程驱动模块由四组同时驱动Y方向和Z方向的两自由度直线电机组成,四组两自由度直线电机两两关于X轴方向对称布置在粗动台台体(2)两侧,并位于大行程驱动模块下方;所述的粗动台还包含两个粗动台重力平衡组件,所述的两个粗动台重力平衡组件布置在粗动台台体(2)上方,沿X轴方向对称布置在粗动台台体(2)两侧,每个粗动台重力平衡组件包含一个粗动台重力平衡导磁板(11)和两个粗动台重力平衡永磁体(12),粗动台重力平衡导磁板(11)与X方向直线电机的永磁体阵列连接在一起,粗动台重力平衡永磁体(12)分别布置在粗动台台体(2)上表面,沿X轴方向的侧边关于Y轴方向对称布置,并与粗动台重力平衡导磁板(11)留有间隙。所述掩膜台系统还含有平面衍射光栅测量系统,所述的平面衍射光栅测量系统包括用于测量精动台与基座(10)之间相对位置的六个传感器组件;所述的每个传感器组件包括平面衍射光栅尺(27)、光栅读数头(25)和光栅读数头支架(26);所述的六个传感器组件布置在精动台的底面,且沿Y轴方向对称布置;六个光栅读数头(25)沿Y轴方向等间距对称分布,每侧的三个光栅读数头(25)共用一个平面衍射光栅尺(27);所述的平面衍射光栅尺(27)安装在精动台底面沿Y轴方向的两侧边上,所述的光栅读数头(25)安装在光栅读数头支架(26)上,光栅读数头支架(26)安装在基座(10)的上表面,光栅读数头(25)与平面衍射光栅尺(27)之间保留间隙;当粗动台沿Y轴方向做往复运动时,保证每侧沿Y轴方向至少有两个光栅读数头(25)进行正常测量,同一侧的两组传感器共同实现X方向、Y方向和Z方向的位移测量,以及绕X轴和Z轴旋转的角度测量;关于Y轴对称的相对应的两组传感器共同实现绕Y轴旋转的角度测量。
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