[发明专利]TDLAS温度测量与校准用真空腔有效

专利信息
申请号: 201310048774.7 申请日: 2013-02-06
公开(公告)号: CN103134773A 公开(公告)日: 2013-06-05
发明(设计)人: 贾军伟;张书锋;张明志;路润喜;栗继军;刘展;李绍飞;金光远 申请(专利权)人: 北京东方计量测试研究所
主分类号: G01N21/39 分类号: G01N21/39
代理公司: 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 代理人: 吴小灿
地址: 100086 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: TDLAS温度测量与校准用真空腔,其特征在于,包括通过透射镜片隔开的上真空室和下真空室,所述下真空室的底部设置有反射镜片,所述下真空室的侧壁分别设置有试验气体充气口和真空获得系统接口,所述试验气体充气口连接第二充气阀,所述真空获得系统接口连接第二隔断阀,所述上真空室分别内设有准直器安装架和光电探测器安装架,所述上真空室的侧壁分别设置有光纤引入口、抽真空口和氩气充气口。
搜索关键词: tdlas 温度 测量 校准 空腔
【主权项】:
真空腔,其特征在于,包括通过透射镜片隔开的上真空室和下真空室,所述下真空室的底部设置有反射镜片,所述下真空室的侧壁分别设置有试验气体充气口和真空获得系统接口,所述试验气体充气口连接第二充气阀,所述真空获得系统接口连接第二隔断阀,所述上真空室分别内设有准直器安装架和光电探测器安装架,所述上真空室的侧壁分别设置有光纤引入口、抽真空口和氩气充气口。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京东方计量测试研究所,未经北京东方计量测试研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310048774.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top