[发明专利]一种干涉SAR分布目标仿真方法有效

专利信息
申请号: 201310048795.9 申请日: 2013-02-06
公开(公告)号: CN103176171A 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 汪丙南;韦立登;向茂生;梁兴东;丁赤飚 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 高燕燕
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提出一种干涉SAR分布目标仿真方法,能够将地面目标信息从地距转化到斜距,在双通道回波信号中实现了地形导致的几何畸变现象。步骤1:将场景划分成众多小面单元,步骤2:地距坐标系到斜距坐标系变换:将步骤1中均匀划分的散射点地距坐标变换到斜距上均匀分布坐标,由地距线上地形信息和斜距值,插值获得散射点三维坐标,使其能够被雷达距离门采集到;步骤3:通过步骤2中插值后得到的小面单元,计算其双通道后向散射图:步骤4:根据步骤1至步骤3中建立的几何模型和散射模型,生成双通道相关性回波数据。
搜索关键词: 一种 干涉 sar 分布 目标 仿真 方法
【主权项】:
一种干涉SAR分布目标仿真方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:步骤1:场景网格划分:将场景划分成众多小面单元,小面单元中心点的高度为输入DEM高度;步骤2:地距坐标系到斜距坐标系变换:将步骤1中均匀划分的散射点地距坐标变换到斜距上均匀分布坐标,由地距线上地形信息和斜距值,插值获得散射点三维坐标,使其能够被雷达距离门采集到;步骤3:通过步骤2中插值后得到的小面单元,计算其双通道后向散射图:首先由空间几何关系,计算雷达视线相对小面单元入射角,由点散射模型计算小面单元确定性散射特性,然后由相干斑的乘积模型,仿真SAR图像中的相干斑现象;步骤4:根据步骤1至步骤3中建立的几何模型和散射模型,生成双通道相关性回波数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院电子学研究所,未经中国科学院电子学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310048795.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top