[发明专利]光学目标检测有效
| 申请号： | 201310049245.9 | 申请日： | 2013-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN103257367A | 公开（公告）日： | 2013-08-21 |
| 发明（设计）人： | S.R.P.帕瓦尼;J.J.赫尔;S.切米什凯恩;K.伯克纳 | 申请（专利权）人： | 株式会社理光 |
| 主分类号： | G01V8/10 | 分类号： | G01V8/10 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 王冉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种基于光学的目标检测系统，包含全息检测滤波器，该全息检测滤波器被设计为当目标存在时产生更集中的光学检测信号。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 目标 检测 | ||
【主权项】：
一种光学目标检测系统，用于检测场景中的目标的存否，所述光学目标检测系统包含：具有全息检测滤波器的光学子系统，所述光学子系统接收来自所述场景的光，并在所述光学子系统的检测面上产生光学检测信号，所述全息检测滤波器在所述目标存在时导致产生更集中的光学检测信号，在所述目标不存在时导致产生更分散的光学检测信号；及位于所述检测面的光分布检测器，所述光分布检测器接收所述光学检测信号，在所述光学检测信号更集中时产生较低的电气输出，在所述光学检测信号更分散时产生较高的电气输出，并根据所述电气输出对所述目标的存否进行确定。
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