[发明专利]用于检测和校准时钟机构的转轮位置的装置有效
| 申请号： | 201310049331.X | 申请日： | 2013-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN103246198A | 公开（公告）日： | 2013-08-14 |
| 发明（设计）人： | J-J·博恩;P·托尔托拉;C·尼古拉斯;P·拉戈热特 | 申请（专利权）人： | 斯沃奇集团研究和开发有限公司 |
| 主分类号： | G04D7/04 | 分类号： | G04D7/04;G04C9/08 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 杨晓光;于静 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 用于检测和校准电子模拟手表的时钟机构（1）的至少一个第一转轮（16）的位置的装置，其中该第一转轮（16）在一个平面（P1）中延伸，检测和校准装置（30）包括至少一个发出光束（34）的光源（32）和至少一个光检测系统（36），并且该检测和校准装置的特征在于第一光反射元件（40）从时钟机构（1）的第一转轮（16）的上或下表面中的一个伸出，其中光源（32）和光检测系统（36）布置为使得在时钟机构（1）的第一转轮（16）的确定位置处，由光源（32）发出的光束（34）由第一反射元件（40）在光检测系统（36）的方向上反射。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 校准 时钟 机构 转轮 位置 装置 | ||
【主权项】：
一种装置，用于检测和校准电子模拟手表的时钟机构（1）的至少一个第一转轮（16）的位置，其中该第一转轮（16）在一个平面（P1）中延伸，所述检测和校准装置（30）包括至少一个发出光束（34）的光源（32）和至少一个光检测系统（36），并且该检测和校准装置的特征在于第一光反射元件（40）从所述时钟机构（1）的所述第一转轮（16）的上或下表面中的一个伸出，其中所述光源（32）和所述光检测系统（36）布置为使得在所述时钟机构（1）的所述第一转轮（16）的确定位置处，由所述光源（32）发出的所述光束（34）由所述第一反射元件（40）以所述光检测系统（36）的方向反射。
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