[发明专利]电子照相光电导体测试方法及其制备方法无效
| 申请号： | 201310050660.6 | 申请日： | 2013-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN103308456A | 公开（公告）日： | 2013-09-18 |
| 发明（设计）人： | 田中靖 | 申请（专利权）人： | 富士电机株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25;G01N21/31;G03G5/05 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 项丹 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及电子照相光电导体测试方法及其制备方法。提供了一种技术，其可以方便地检测并快速反馈光电导层材料的浓度变化，并且可以连续制备几乎不会发生特性变化的光电导体。该技术是一种测试电子照相光电导体的方法的技术，所述电子照相光电导体包含形成于导电支撑上并含有电荷产生材料、空穴传输材料、电子传输材料以及树脂粘合剂的光电导层。该方法包括：测定电子照相光电导体的表面光谱反射率，并通过使用测得的光谱反射率检测光电导层中的电荷产生材料和电子传输材料的浓度。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 照相 光电 导体 测试 方法 及其 制备 | ||
【主权项】：
一种对电子照相光电导体进行测试的方法，所述电子照相光电导体包含形成于导电支撑上并含有电荷产生材料、空穴传输材料、电子传输材料以及树脂粘合剂的光电导层，该方法包括：测定电子照相光电导体的表面光谱反射率，并使用测得的光谱反射率检测光电导层中的电荷产生材料和电子传输材料的浓度。
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