[发明专利]微电子用超纯氟铵系列蚀刻液的制备方法有效
申请号: | 201310051969.7 | 申请日: | 2013-02-18 |
公开(公告)号: | CN103112872A | 公开(公告)日: | 2013-05-22 |
发明(设计)人: | 王涛;刘兵 | 申请(专利权)人: | 苏州晶瑞化学有限公司 |
主分类号: | C01C1/16 | 分类号: | C01C1/16;C09K13/08 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 汪青 |
地址: | 215168 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种微电子用超纯氟铵系列蚀刻液的制备方法,该方法以工业级液氨及工业级干态氟化氢为原料,首先通过提纯分别获得浓度为28.0wt%~31.0wt%的高纯氨水和浓度为50.0wt%~60.0wt%的高纯氢氟酸,再使二者在40.0±0.50wt%的高纯氟化铵母液中混合反应,获得高纯氟化氨溶液,该高纯氟化氨溶液可进一步调配得到其它各种氟铵盐系列产品。此外,本发明还对氨水和氢氟酸的提纯的方法进行了改进,这些提纯方法均具有操作简单,稳定可靠以及可大规模制备的优势,从而可大规模稳定生产氟铵盐系列产品。 | ||
搜索关键词: | 微电子 用超纯氟铵 系列 蚀刻 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种微电子用超纯氟铵系列蚀刻液的制备方法,其特征在于:以重量含量计,所述蚀刻液中,单项阴离子杂质含量低于50ppb,单项金属杂质含量低于1ppb,>0.2μm颗粒浓度小于100个/ml,所述方法包括下列步骤:(1)、以工业级液氨为原料制备单项阴离子杂质含量低于50ppb,单项金属杂质含量低于1ppb,>0.2μm颗粒浓度小于100个/ml,浓度为28.0wt%~32.0wt%的高纯氨水;(2)、以工业级干态氟化氢为原料制备单项阴离子杂质含量低于50ppb,单项金属杂质含量低于1ppb,>0.2μm颗粒浓度小于100个/ml,浓度为50.0 wt%~60.0wt%的高纯氢氟酸;(3)、将步骤(1)制备的高纯氨水、步骤(2)制备的高纯氢氟酸投加到浓度为40.0±0.50wt%的高纯氟化铵母液中,混合反应,获得浓度为40.0±0.50wt%的超纯氟化铵水溶液,即为所述蚀刻液,其中:高纯氨水、高纯氢氟酸的投料量满足[NH3]:[HF]=1:0.95~1.05,所述高纯氟化铵母液中,单项阴离子杂质含量低于50ppb,单项金属杂质含量低于1ppb,>0.2μm颗粒浓度小于100个/ml,在整个步骤(3)的过程中,控制溶液的温度在20℃~40℃之间。
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