[发明专利]基于光电参数自动采集的多应力加速寿命监控测试系统无效
申请号: | 201310051993.0 | 申请日: | 2013-02-18 |
公开(公告)号: | CN103149523A | 公开(公告)日: | 2013-06-12 |
发明(设计)人: | 杨海峰;韩立成;何满珍 | 申请(专利权)人: | 南京汉德森科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 211100 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及半导体照明产品的加速寿命测试监控系统,属于电光源与照明测量技术领域。提供一种基于光电参数自动采集的多应力加速寿命监控测试系统,包括加速老化装置,用以提供样品加速老化的电压应力及温度应力,其包含提供给样品老化的平台;照度自动采集装置,其包含用以对样品的照度实施自动在线采集照度探测器;控制装置,用以控制样品老化的时间及定期自动采集的时间。本发明把加速多应力老化系统和自动采集测试结合起来。在这套系统上,对样品实现温度、电压应力加速老化产品,并对光电参数进行自动采集,监控其维持率的变化。为建立寿命预测模型提供依据。还避免了单个样品人工测量的不确定度及繁琐程度,缩短了常态寿命试验的时间。 | ||
搜索关键词: | 基于 光电 参数 自动 采集 应力 加速 寿命 监控 测试 系统 | ||
【主权项】:
一种基于光电参数自动采集的多应力加速寿命监控测试系统,包括:加速老化装置,用以提供样品加速老化的电压应力及温度应力,其包含提供给样品老化的平台;照度自动采集装置,其包含用以对样品的照度实施自动在线采集照度探测器;控制装置,用以控制样品老化的时间及定期自动采集的时间。
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