[发明专利]光谱测定光学系统及光谱测定仪无效
| 申请号： | 201310057156.9 | 申请日： | 2013-02-22 |
| 公开（公告）号： | CN103292901A | 公开（公告）日： | 2013-09-11 |
| 发明（设计）人： | 辰田宽和;田中英一;堂胁优 | 申请（专利权）人： | 索尼公司 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01J3/04;G01J3/18;G01J3/02;G02B17/02;G02B27/42 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 曹正建;陈桂香 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及光谱测定光学系统和使用该光谱测定光学系统的光谱测定仪。所述光谱测定光学系统包括：反射部件，其具有沿第一圆形形成的凹面；衍射光栅，其具有边缘部和沿第二圆形形成的凸面，所述第二圆形与所述第一圆形同心地布置，在所述反射部件的所述凹面处被反射的光入射到所述衍射光栅上；以及输入元件，其相对于所述反射部件及所述衍射光栅布置在预定位置处，使得衍射光在输入至所述光谱测定光学系统的输入光与所述衍射光栅的所述边缘部之间穿过。所述衍射光自所述衍射光栅射出、具有不小于600nm且不超过1100nm的波长区域、并且在所述凹面处被反射。根据本发明的光谱测定光学系统和光谱测定仪，能够用于检测具有特定波长范围的光。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱 测定 光学系统 | ||
【主权项】：
一种光谱测定光学系统，其包括：反射部件，其具有沿第一圆形形成的凹面；衍射光栅，其具有边缘部和沿第二圆形形成的凸面，所述第二圆形与所述第一圆形同心地布置，在所述反射部件的所述凹面处被反射的光入射到所述衍射光栅上；以及输入元件，其相对于所述反射部件和所述衍射光栅布置在预定位置处，以便衍射光在输入至所述光谱测定光学系统的输入光与所述衍射光栅的所述边缘部之间穿过，所述衍射光自所述衍射光栅射出、具有不小于600nm且不超过1100nm的波长区域、并且在所述凹面处被反射。
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