[发明专利]一种粉体材料电导率与膜电极阻抗的测试装置及方法

摘要

本发明一种粉体材料电导率与膜电极阻抗的装置及方法，可满足两种测量模式。对于粉体材料电导率测量模式：将制备的粉体压块被测样置于被测样小室，组装模具进行测试，分别获得粉体的电子阻抗和总阻抗，结合阻抗并联公式获得质子阻抗，计算获得电子、质子电导率，总电导率；对于膜电极阻抗测量模式，将制备的膜电极被测样置于被测样小室，组装模具进行测试，获得膜电极的阻抗。本测试装置配有控温套管和加湿管道，可测试不同温度以及湿度下的粉体材料电导率及膜电极阻抗。其设备简单，易于操作，测量结果精确；适合混合荷电粉体材料的电导率测试以及在模拟PEM水电解池环境中进行膜电极阻抗测试，更凸显了本装置的可行性、必要性以及重要性。

主权项

一种粉体材料电导率与膜电极阻抗的测试装置，其特征在于，该装置包括上压杆（1）、上紧固螺杆（3）、控温套管（4）、底座（10）和下紧固螺杆（11）；所述上压杆（1）的上端一侧设有上接线柱（2），所述上压杆（1）的下端插入所述控温套管（4）内，所述上压杆（1）与所述控温套管（4）通过所述上紧固螺杆（3）固定，所述上压杆（1）与所述控温套管（4）接触部分设置起到绝缘作用的聚四氟乙烯套管（5）；所述下端底座（10）的一侧设有下接线柱（9），所述下端底座（10）与所述控温套管（4）通过所述下紧固螺杆（11）固定；所述上压杆（1）上设有用于水蒸气的进出管道的上加湿通道（6），所述下端底座（10）上设有用于水蒸气的进出管道的下加湿通道（8）。