[发明专利]时钟发生电路和包括时钟发生电路的半导体装置

摘要

本发明提供一种时钟发生电路和包括时钟发生电路的半导体装置，所述时钟发生电路包括延迟线、延迟模型化块、相位检测块、多次更新信号发生块以及延迟线。延迟线延迟输入时钟并产生延迟时钟。延迟模型化块将延迟时钟延迟一模型化的延迟值并且产生反馈时钟。相位检测块比较输入时钟的相位与反馈时钟的相位并产生相位信息，以及量化输入时钟与反馈时钟之间的相位差并产生相位码。多次更新信号发生块响应于相位码而产生多次更新信号。延迟线控制块响应于多次更新信号和相位信息而改变延迟线的延迟量。

主权项

一种时钟发生电路，包括：延迟线，所述延迟线被配置成延迟输入时钟并且产生延迟时钟；延迟模型化块，所述延迟模型化块被配置成将所述延迟时钟延迟了模型化的延迟值，并且产生反馈时钟；相位检测块，所述相位检测块被配置成比较所述输入时钟的相位与所述反馈时钟的相位并且产生相位信息，以及量化所述输入时钟与所述反馈时钟之间的相位差以产生相位码；多次更新信号发生块，所述多次更新信号发生块被配置成响应于所述相位码而产生多次更新信号；以及延迟线控制块，所述延迟线控制块被配置成响应于所述多次更新信号和所述相位信息来改变所述延迟线的延迟量，其中，所述相位检测块包括：第一相位检测信号发生部，所述第一相位检测信号发生部被配置成从所述输入时钟产生具有不同相位的多个输入采样时钟，并且比较所述多个输入采样时钟的相位与所述反馈时钟的相位并产生第一相位检测信号；第二相位检测信号发生部，所述第二相位检测信号发生部被配置成从所述反馈时钟产生具有不同相位的多个反馈采样时钟，并且比较所述多个反馈采样时钟的相位与所述输入时钟的相位并产生第二相位检测信号；以及信号组合部，所述信号组合部被配置成组合所述第一相位检测信号与所述第二相位检测信号，并且产生所述相位信息和所述相位码。